Curso de Posgrado: MICROANÁLISIS CON SONDA DE ELECTRONES

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Curso de Posgrado: MICROANÁLISIS CON SONDA DE ELECTRONES.

El curso inicia sus actividades el sábado 6 de octubre a las 9 h en el
Lab. de Química Analítica (Subsuelo del Edificio de Chacabuco y
Pedernera).

Calendario de Actividades

Clases Teóricas (Lugar: Lab. de Química Analítica)

Sábado 6-10-07: 9 h a 13 h - 14:30 h a 18 h.
Sábado 3-11-07: 9hs a 13 h - 14:30 h a 18 h.

Clases Prácticas

Sabado 20-10-07:  9 h a 13 h - 14:30 h a 18 h. Lugar: LABMEM (Bloque 1)
Sabado 17-11-07.  9 h a 13 h - 14:30 h a 18 h. (Sala de máquinas)

Destinatarios: Licenciados en Física, Geología y Química, Ing. Químicos.

Responsable: Dr. José Alberto Riveros (UNC),
e-mail: beto en quechua.fis.uncor.edu

Colaborador: Dra. María del R. Torres Deluigi (UNSL),
e-mail: charo en unsl.edu.ar

Coordinador: Dr. Ernesto Perino (UNSL), e-mail: eperino en unsl.edu.ar

Crédito horario: 40 horas (presenciales: 30 hs; no-presenciales: 10 hs).
Categorización:  Perfeccionamiento (RESOLUCIÓN Nº 697/07-R)

Objetivos: Introducir al aprendizaje y manejo de la técnica de Microcopía
electrónica de barrido y de sus posibilidades analíticas. Adquirir la
familiaridad con estas técnicas y con ello la confianza necesaria para
abordar la solución de problemas. Dirigido a alumnos de la Maestría en
Química Analítica y a profesionales del área de las ciencias físicas,
químicas y geológicas, que por razones de sus trabajos de Tesis Doctoral o
Becas requieran del uso de la técnica, para el normal desempeño de las
tareas de investigación propuestas en su correspondiente plan.

Arancel: dirigirse a Fundación Universidad Nacional de San Luis.

PROGRAMA:
Aspectos Teóricos

El Cañón de electrones.
Interacción de electrones con la materia. Método de Monte Carlo. Volumen
de interacción. Volumen de interacción en función de los parámetros E0, Z;
geometría. Medición del volumen de interacción.

El espectro de rayos x.
Generación del espectro contínuo. Generación del espectro característico.
Transiciones radiativas y no radiativas. Curvas de ω vs Z y a vs Z
Sistemas EDS y WDS. Espectro en un sistema EDS. Análisis cualitativo.
Sustracción de fondo. Intensidad de la línea característica. Análisis
semicuantitativo. Análisis cuantitativo. Efectos de matriz. Corrección
ZAF. Método de φ(z).

Estrategias de medición.
Errores (estadísticos, instrumentales, preparación de muestras, etc).
Mínimo límite de detección. Elección de E0. Elección de patrones.
Contaminación por Carbono. Daños por radiación. Metalizado. Homogeneidad
de la muestra.

Aspectos Experimentales
Trabajos prácticos
Consistirán en el uso de PC con software específicos: SEM, Monte Carlo,
AXIL y MULTI. Los participantes adquirirán una formación mínima en el
procesamiento de espectros, cálculo de efectos de matriz, mínimo límite de
detección, elección de las mejores condiciones experimentales para un buen
análisis cuantitativo y en el análisis cualitativo, semicuantitativo y
cuantitativo con espectrómetros EDS y WDS.

BIBLIOGRAFÍA:
1) Evans R. (1955) The Atomic Nucleus, Mc Graw-Hill, New York.
2) Kitel C. (1956) Introduction to Solid State Physics, Willey, New York.
3) Brizuela H., Riveros J.A. (1990) X-Ray Spectrom. 19, 173.
4) Duncumb P., da Casa C. (1967) Procc. of the 5th Intern. Cong. on X Ray
Op. and Microanalysis, Ed. Mollenstedt G., Gaukler K., Springer, Berlñin,
146.
5) Joy D., Luo S. (1989) Scanning 11, 176.
6) Baró J. (1993) Ph. D. Thesis University of Barcelona, España.
7) Khan N., Karimi M. (1980) X Ray Spectrom. 9, 32.
8) Love G., Scott V. (1978) J. Phys. D.: Appl. Phys. 11, 1369.
9) Rousseau R.M. (2006) Spectroch. Acta Part B 61, 759.