Seminarios del LABMEM

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Seminarios de divulgación organizados por el  Laboratorio de Microscopía
Electrónica y Microanálisis (LABMEM) de la Universidad Nacional de San
Luis

El día martes 18 de diciembre a partir de las 16 horas en el Aula 44
(Bloque 1) se brindarán los siguientes Seminarios:

  1) Título: “Espectrómetro de fluorescencia de rayos x de alta
resolución. Algunas perspectivas para la caracterización del entorno
químico en compuestos de metales de transición”. Expositor: Dr. Germán
A. Tirao (FaMAF, UNC)

   Resumen

   La fluorescencia de rayos x puede ser usada no sólo como herramienta
para la identificación y cuantificación de elementos en una muestra,
sino también para el estudio de la estructura electrónica del átomo
central y su relación con el entorno químico en un compuesto. Las
influencias químicas causan, en el espectro de emisión de rayos x,
corrimientos de líneas principales, aparición de líneas adicionales
(satélites) y alteraciones de las intensidades relativas y cambios en
los anchos naturales de líneas.
  Las transiciones hacia capas profundas que se originan en la banda de
valencia son las más afectadas por el entorno químico, por lo que
resultan ser las principales candidatas a ser estudiadas para la
determinación de la estructura electrónica. Para la detección de estos
cambios espectrales, es indispensable el uso de instrumentación de alta
resolución en energías.
  En este seminario se presentará el espectrómetro de alta resolución
construido en el GEAN (Grupo de Espectroscopia Atómica y Nuclear) de la
FaMAF, especialmente diseñado para el estudio de fluorescencia Kb en
compuestos de metales de transición. Se describirá brevemente la técnica
espectroscópica, se mostraran resultados recientes y algunas
aplicaciones.

  Dr. Germán Alfredo Tirao

  El expositor es Doctor en Física, su Postdoctorado lo realizó en la
Universidad Federal do Paraná (UFPR), Brasil.
  Actualmente se desempeña como JTP Efectivo de la Facultad de Matemática,
Astronomía y Física (Fa.M.A.F.) de la Universidad Nacional de Córdoba
(U.N.C.), y es Investigador Asistente en la CIC del CONICET.
  Ha publicado sus trabajos científicos en revistas de circulación
internacional, tales como: X Ray Spectrom.; J. Synchrotron Rad.; Rev.
Sci. Instrum.; J. of Crystal Growth; Nucl. Instr. and Methods A;
Chemical Physics; Condensed Matter.


  2) El Dr. Antonio Casares de Zeiss NTS (Nano Technology Systems) /
Alemania desarrollará los siguientes temas

  a) Introducción sobre Carl Zeiss NTS y sus alcances para el desarrollo
de la Nanotecnología.
  b) Microscopios electrónicos de barrido “EVO” – diferentes usos y
aplicaciones especialmente relacionadas con el 1450VP existente.
  c) Microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo – Supra y
Ultra – diferentes modelos y usos. Especial énfasis en aplicaciones del
Supra 40.
  d) Microscopios de emisión de campo unidos a haz electrónico focalizado
para el análisis de nanoestructuras en 3D – Crossbeam – y otros equipo
de desarrollo reciente.
  e) Posibilidades de adaptación de EDX; WDX; EBSD; Platina Peltier, etc.

  La presentación se realizará en español.


Dra. María del Rosario Torres Deluigi
Lab. de Microscopía Electrónica y Microanálisis
Universidad Nacional de San Luis
Ejército de los Andes 950
- D5700HHW - San Luis
Argentina
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